涂層測厚儀2000A適合于使用在不需要全部測量數(shù)據(jù)存儲，評估和輸出，但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測試工件上測量的情況下。配有不同種類的探頭以適應各種應用情況。探頭自動識別。應用程式特定的校準參數(shù)儲存在測量探頭中，因此儀器一旦連接了探頭都能立即進行測量。
涂層測厚儀2000A的正確使用方法
(1)附著物質(zhì)的影響。本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進行系統(tǒng)校準時，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。
(2)強磁場的干擾。曾做過一個簡單實驗，當儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時，測量會受到嚴重的干擾。如果離電磁場近時還有可能會發(fā)生死機現(xiàn)象。
(3)人為因素。這中情況經(jīng)常會發(fā)生在的身上。涂層測厚儀2000A之所以能夠測量到微米級就因為它能夠采取磁通量的微小變化，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機 體，使磁通量發(fā)生變化造成錯誤測量。所以建議用戶初次使用本儀器時，要先掌握好測量方法。探頭的放置方式對測量有很大影響，在測量中應使探頭與試樣表 面保持垂直。并且探頭的放置時間不宜過長，以免造成基體本身磁場的干擾。
(4)在系統(tǒng)校準時沒有選擇合適的基體。基體小平面為7mm，小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的。
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